Определение искомого параметра
Разностей э. д. с, обусловленных малым изменением электропроводности и радиуса, показаны касательными к соответствующим кривым изменения э. д. с. Разность э. д. с. при малых отклонениях электропроводности исследуемого изделия от эталонного и при постоянном значении радиуса направлена по линии АОВ, касательной к кривой, выражающей зависимость э д. с. от электропроводности. При малых отклонениях радиуса и при постоянном значении электропроводности разность э д с направлена по линии СОД. Линия АОВ составляет с осью активных напряжений угол а, а линия СОД составляет с той же Для сравнения контролируемого изделия с эталонным по электропроводности и радиусу используется осциллограф. Для определения изменения электропроводности на одну пару пластин осциллографа, направляющих электронный луч по горизонтали, прикладывается напряжение, сдвинутое по фазе по отношению к оси активных напряжений на угол р, соответствующий направлению изменения радиуса (COD), а к другой паре пластин, направляющих электронный луч по вертикали, прикладывается напряжение от измерительных катушек.
В результате совместного действия обоих напряжений электронный луч в общем случае будет описывать эллиптическую кривую. Так как на пластину горизонтального отклонения луча дано напряжение, имеющее направление изменения э. д. с. от радиуса, то между этим напряжением и напряжением измерительных катушек, при изменении только радиуса, сдвига по фазе не будет и электронный луч вычертит прямую линию.
Наклон этой линии по отношению к координатным осям будет изменяться в зависимости от соотношения напряжений, поданных на пластины горизонтального и вертикального отклонения.
Если контролируемое изделие отличается от эталонного только по электропроводности, .
то напряжение измерительных катушек, поданное на пластины вертикального отклонения, будет направлено по линии АОВ и — на экране осциллографа появится эллипс.
